2018年黑龙江科技大学复试材料分析测试技术考研大纲

《材料分析测试技术》考试大纲
适用专业名称：材料科学与工程
科目代码及名称 考试大纲
5 材料分析测试技术 一、 考试目的与要求
测试考生对 X 射线衍射分析技术、扫描电子显微镜、电子探针、透射电镜等分析技术的掌握程度，使学生掌握材料研究的基本方法，学会进行材料微
观组织结构分析和物理性能分析的常用仪器设备的原理及使用方法，使学生具备分析研究材料的组织结构所必须的基础理论、基础知识与基本技能。
二、 试卷结构（满分 100 分）
内容比例：
X 射线衍射分析 约 35 分
透射电镜分析 约 20 分
扫描电镜分析 约 20 分
电子探针分析 约 25 分
题型比例：
客观题 约30分
1．填空题（选择或判断） 约15分
2．名词解释 约15分
主观题 约70分
1. 简答题 约20分
2. 证明题 约20分
3. 综合分析题 约30分
三、考试内容与要求
（一）X 射线衍射分析
考试内容
X 射线物理基础、X 射线衍射方向、X 射线衍射强度、多晶体分析方法、 X 射线物相分析及点阵参数精确测定
考试要求
1. 掌握 X 射线的本质、X 射线谱的分类及特征谱的产生机理；
2. 掌握 X 射线与物质的相互作用；
3. 掌握布拉格方程的推导及应用；
4.理解结构因子的物理意义，掌握三种常见点阵消光规律，掌握 X 射线衍射强度公式；
5、理解各种衍射分析方法，掌握 X 射线衍射仪的参数设置；
6、掌握物相定性分析的原理、方法与步骤；
7、掌握 PDF 卡片的组成及索引方法；
8、掌握物相定量分析的原理及方法；
9、掌握立方晶系物质点阵常数的精确测定。
（二）电子光学基础及透射电子分析
考试内容
电子波与电磁透镜、电磁透镜的像差与分辨本领、电磁透镜的景深和焦长，电子衍射原理、电子显微镜中的电子衍射、单晶体电子衍射花样标定
以及复杂电子衍射花样。透射电子显微镜的结构与成像原理、主要部件的结构与工作原理；透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定，薄膜样品的制备；
衍衬成像原理；消光距离
考试要求
1. 掌握电子透镜及其景深与焦长、电磁透镜的像差与分辨本领；
2.理解透射电镜的结构，了解透射电镜的应用样品的制备方法并能制备电镜样品；
3.掌握电子衍射原理和衍称成像原理；
4.能够分析电子衍射花样。
（三）扫描电子显微镜
考试内容
电子束与固体样品作用、扫描电子显微镜的构造和工作原理、扫描电子显微镜的主要性能、表面形貌衬度原理及其应用、原子序数衬度原理及其
应用
考试要求
1. 理解扫描电子显微镜的构造和工作原理
2. 了解电子束与固体样品作用时产生的信号
3. 掌握扫描电子显微镜的主要性能、表面形貌衬度原理及其应用
4. 应用 SEM 图像分析物质
（四）电子探针显微分析
考试内容
电子探针仪的结构与工作原理；电子探针仪的分析方法及其应用
考试要求
1. 理解电子探针分析构造
2. 了解电子探针分析应用
3. 掌握电子探针分析方法及微区成分分析技术
4. 应用微区分析技术分析物质成分和结构
参考书目：
《材料分析方法》（第三版），周玉主编，哈尔滨工业大学出版社，2011 年